深圳立仪科技有限公司Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd
Xbar-R均值极差控制图、分布概率直方图、平均值、标准差、CPK等常用统 计参数。
按被测产品独立统计,可追溯性品质管理,可记录产品条码或编号,由此 追踪到该编号产品当时的印刷、浆料、钢网、刮刀等几乎所有制程工艺参 数。规格参数可自主设置。
制程优化分类统计,可根据不同印刷参数比如刮刀压力、速度、脱网速度、 清洁频率等,不同浆料,不同钢网,不同刮刀进行条件分类统计,且条件可以 多选??煞奖愕馗莶煌耐臣平峁罢易钗榷ǖ闹瞥滩问渲?。